1. Мишанов Р.О. Индивидуальное прогнозирование показателей качества и надежности компонентов радиоэлектронных средств космических аппаратов. – диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук. – 2018 – с. 18-24. 2. Витвицкий, В.Г. Факторы повышения надежности и устойчивости работы полевых транзисторов с барьером Шоттки / В.Г. Витвицкий, Т.А. Гевондян, В.Н. Дианов // Надежность и качество – 2013: труды междун. сипоз. В 2-х т. Под ред. Н.К. Юркова. – Пенза: Изд-во ПГУ, 2013. – Т. 2. – С. 124-126. 3. Rainal, A.I. Performance Limits of Electrical Interconnections to a High – Speed Chip / A.I. Rainal // IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology. – 1988. – Vol. 11, Issue 3. – P. 260-266. 4. Надежность ЭРИ: Справочник. – М.: Изд-во ЦНИИ 22 МО, 2006. – 641 c..